Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (Endorsed by AENOR in December of 2011.)
NORM herausgegeben am 1.12.2011
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-7:2011
Ausgabedatum normen: 1.12.2011
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE