UNE-EN 60749-9:2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking

NORM herausgegeben am 30.5.2003

Englisch -
Elektronische PDF (48.20 EUR)

Englisch -

Gedruckt (53.00 EUR)

Spanisch -

Elektronische PDF (40.20 EUR)

Spanisch -

Gedruckt (44.20 EUR)

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-9:2003
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.5.2003
Zahl der Seiten: 17
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE