Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in July of 2017.)
NORM herausgegeben am 1.7.2017
Bezeichnung normen: UNE-EN 60749-9:2017
Ausgabedatum normen: 1.7.2017
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE