Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures (Endorsed by AENOR in June of 2012.)
NORM herausgegeben am 1.6.2012
Bezeichnung normen: UNE-EN 62047-13:2012
Ausgabedatum normen: 1.6.2012
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE