UNE-EN 62047-2:2006

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 2: Tensile testing method of thin film materials (IEC 62047-2:2006). (Endorsed by AENOR in January of 2007.)

NORM herausgegeben am 1.1.2007

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 62047-2:2006
Ausgabedatum normen: 1.1.2007
Zahl der Seiten: 17
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE