UNE-EN 62374:2007

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007). (Endorsed by AENOR in February of 2008.)

NORM herausgegeben am 1.11.2013

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN 62374:2007
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.11.2013
Zahl der Seiten: 25
Gewicht ca.: 75 g (0.17 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE