Non-destructive testing - Characteristics of focal spots in industrial X-ray systems for use in non-destructive testing - Part 4: Edge method
NORM herausgegeben am 31.5.2000
Bezeichnung normen: UNE-EN 12543-4:2000
Ausgabedatum normen: 31.5.2000
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE