UNE-EN IEC 60749-17:2019

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in June of 2019.)

NORM herausgegeben am 1.6.2019

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Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: UNE-EN IEC 60749-17:2019
Ausgabedatum normen: 1.6.2019
Zahl der Seiten: 17
Gewicht ca.: 51 g (0.11 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE