Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in May of 2022.)
NORM herausgegeben am 1.5.2022
Bezeichnung normen: UNE-EN IEC 60749-28:2022
Ausgabedatum normen: 1.5.2022
Zahl der Seiten: 57
Gewicht ca.: 171 g (0.38 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE