Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing (Endorsed by Asociación Espanola de Normalización in November of 2020.)
NORM herausgegeben am 1.11.2020
Bezeichnung normen: UNE-EN IEC 60749-30:2020
Ausgabedatum normen: 1.11.2020
Zahl der Seiten: 21
Gewicht ca.: 63 g (0.14 Pfund)
Land: Spanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen UNE