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Standard Test Method for Nanosecond Event Detection for Electrical Contacts and Connectors
Automatische name übersetzung:
Standard Test Method for Nanosekunden- Ereigniserkennung für elektrische Kontakte und Anschlüsse
NORM herausgegeben am 21.5.1998
Bezeichnung normen: ASTM B878-97
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 21.5.1998
SKU: NS-8585
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
event detection, nanosecond events, nanosecond intermittences
| 1. Scope | ||||||||
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1.1 This test method describes equipment and techniques for detecting contact resistance transients yielding resistances greater than a specified value and lasting for at least a specified minimum duration. 1.2 The minimum durations specified in this standard are 1, 10, and 50 nanoseconds (ns). 1.3 The minimum sample resistance required for an event detection in this standard is 10. 1.4 An ASTM guide for measuring electrical contact transients of various durations is available as Guide B 854. 1.5 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
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| 2. Referenced Documents | ||||||||
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Letzte Aktualisierung: 2026-05-17 (Zahl der Positionen: 2 278 942)
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