ASTM E1855-04e1

Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

Automatische name übersetzung:

Standard Test Method for Nutzung von 2N2222A Silicon -Bipolar-Transistoren als Neutronenspektrum Sensors and Displacement Damage Monitore



NORM herausgegeben am 1.6.2004


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis82.40 ohne MWS
82.40

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM E1855-04e1
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.6.2004
SKU: NS-43326
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM E1855-04e1 :

Keywords:

displacement damage, neutron damage, radiation hardness, silicon transistors, spectrum sensors, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)

Empfehlungen:

EEviZak – alle Gesetze einschließlich ihrer Evidenz in einer Stelle

Bereitstellung von aktuellen Informationen über legislative Vorschriften in der Sammlung der Gesetze bis zum Jahr 1945.
Aktualisierung 2x pro Monat!

Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.




Cookies Cookies

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.

Sie können die Zustimmung verweigern hier.

Hier können Sie Ihre Cookie-Einstellungen nach Ihren Wünschen anpassen.

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können.