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Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
Automatische name übersetzung:
Standard Test Method for Nutzung von 2N2222A Silicon -Bipolar-Transistoren als Neutronenspektrum Sensors and Displacement Damage Monitore
NORM herausgegeben am 10.12.1996
Bezeichnung normen: ASTM E1855-96
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.1996
SKU: NS-43330
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
Displacement damage, Neutron damage, Radiation hardness, Silicon transistors, Spectrum sensors, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectron)
| 1. Scope | ||||||||||||||||||||||
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1.1 This test method covers how 2N2222A silicon bipolar transistors can be used either as dosimetry sensors in the determination of neutron energy spectra, or as silicon 1-MeV equivalent displacement damage fluence monitors. |
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| 2. Referenced Documents | ||||||||||||||||||||||
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Letzte Aktualisierung: 2026-07-31 (Zahl der Positionen: 2 290 450)
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