Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Standard Test Method for Use of 2N2222A Silicon Bipolar Transistors as Neutron Spectrum Sensors and Displacement Damage Monitors
Automatische name übersetzung:
Standard Test Method for Nutzung von 2N2222A Silicon -Bipolar-Transistoren als Neutronenspektrum Sensors and Displacement Damage Monitore
NORM herausgegeben am 10.12.1996
Bezeichnung normen: ASTM E1855-96
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.1996
SKU: NS-43330
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
Displacement damage, Neutron damage, Radiation hardness, Silicon transistors, Spectrum sensors, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectron)
| 1. Scope | ||||||||||||||||||||||
|
1.1 This test method covers how 2N2222A silicon bipolar transistors can be used either as dosimetry sensors in the determination of neutron energy spectra, or as silicon 1-MeV equivalent displacement damage fluence monitors. |
||||||||||||||||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||||||||||||||||
|
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
Letzte Aktualisierung: 2026-01-11 (Zahl der Positionen: 2 254 176)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.