Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ASTM E2444-05
Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films
Automatische name übersetzung:
Terminologie der Messungen auf dünnen, reflektierenden Filme
NORM herausgegeben am 1.5.2005
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM E2444-05
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2005
SKU: NS-45309
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Die Annotation des Normtextes ASTM E2444-05 :
Keywords:
ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)),31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)
Ergänzende Informationen
| 1. Scope | ||||||||
|
1.1 This standard consists of terms and definitions pertaining to measurements taken on thin, reflecting films, such as found in microelectromechanical systems (MEMS) materials. In particular, the terms are related to the standards in Section , which were generated by Committee E08 on Fatigue and Fracture. Terminology E 1823 Relating to Fatigue and Fracture Testing is applicable to this standard. 1.2 The terms are listed in alphabetical order. |
||||||||
| 2. Referenced Documents | ||||||||
|
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
