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ASTM E2444-05e1
Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Includes all amendments And changes 12/23/2011).
Automatische name übersetzung:
Terminologie der Messungen auf dünnen, reflektierenden Filme
NORM herausgegeben am 1.5.2005
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM E2444-05e1
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2005
SKU: NS-45310
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Die Annotation des Normtextes ASTM E2444-05e1 :
Keywords:
ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)
Ergänzende Informationen
| 1. Scope | ||||||||
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1.1 This standard consists of terms and definitions pertaining to measurements taken on thin, reflecting films, such as found in microelectromechanical systems (MEMS) materials. In particular, the terms are related to the standards in Section , which were generated by Committee E08 on Fatigue and Fracture. Terminology E 1823 Relating to Fatigue and Fracture Testing is applicable to this standard. 1.2 The terms are listed in alphabetical order. |
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| 2. Referenced Documents | ||||||||
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