GOST 24453-80
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ASTM E2444-11e1
Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Includes all amendments And changes 5/28/2018).
Automatische name übersetzung:
Terminologie Im Zusammenhang mit Messungen an dünn, Reflektierende Folien
NORM herausgegeben am 15.10.2011
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM E2444-11e1
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 15.10.2011
SKU: NS-45312
Zahl der Seiten: 2
Gewicht ca.: 6 g (0.01 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Kategorie - ähnliche Normen:
Electronics (Vocabularies)Mechanical structures for electronic equipment
Die Annotation des Normtextes ASTM E2444-11e1 :
Keywords:
cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)
Ergänzende Informationen
| 1. Scope | ||||||||
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1.1 This standard consists of terms and definitions pertaining to measurements taken on thin, reflecting films, such as found in microelectromechanical systems (MEMS) materials. In particular, the terms are related to the standards in Section , which were generated by Committee E08 on Fatigue and Fracture. Terminology E 1823 Relating to Fatigue and Fracture Testing is applicable to this standard. 1.2 The terms are listed in alphabetical order. |
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| 2. Referenced Documents | ||||||||
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