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Standard Terminology Relating to Surface Analysis
Automatische name übersetzung:
Standard-Terminologie In Bezug auf Oberflächenanalyse
NORM herausgegeben am 10.7.2002
Bezeichnung normen: ASTM E673-02
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.7.2002
SKU: NS-47607
Zahl der Seiten: 10
Gewicht ca.: 30 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
terminology, ICS Number Code 01.040.17 (Metrology and measurement. Physical phenomena (Vocabularies)),17.040.20 (Properties of surfaces)
1. Scope |
1.1 This terminology is related to the various disciplines involved in surface analysis. 1.2 The definitions listed apply to (a) Auger electron spectroscopy (AES), (b) X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), (c) ion-scattering spectroscopy (ISS), (d) secondary ion mass spectrometry (SIMS), and (e) energetic ion analysis (EIA). |
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Letzte Aktualisierung: 2024-05-17 (Zahl der Positionen: 2 902 148)
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