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Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization
Automatische name übersetzung:
Standard Praxis für Rasterelektronenmikroskop Strahlgröße Charakterisierung
NORM herausgegeben am 10.10.1997
Bezeichnung normen: ASTM E986-97
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.10.1997
SKU: NS-48703
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
edge sharpness, electron beam size, E 766, graphite fiber, magnification, NIST-SRM 2069B, performance, SEM, specimen interaction, waveform, ICS Number Code 31.120 (Electronic display devices), 37.020 (Optical equipment)
1. Scope | ||||
1.1 This practice provides a reproducible means by which the performance of a scanning electron microscope (SEM) may be characterized. This performance is a measure of the SEM-operator-material combination and is quantified through the measurement of an effective "apparent edge sharpness" for a number of materials, two of which are suggested. This practice requires an SEM with the capability to perform line-scan traces (for example, -deflection waveform generation) for the suggested materials. The range of SEM magnification at which this practice is of utility is from 1000 to 200 000 X. 1.2 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
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2. Referenced Documents | ||||
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Letzte Aktualisierung: 2024-05-16 (Zahl der Positionen: 2 902 054)
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