Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ASTM F1191-88
Guide for the Radiation Testing of Semiconductor Memories (Withdrawn 1993)
Automatische name übersetzung:
Leitfaden für die Strahlen Prüfung von Halbleiterspeichern (Withdrawn 1993)
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM F1191-88
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-49447
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Die Annotation des Normtextes ASTM F1191-88 :
Keywords:
ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Empfehlungen:
Aktualisierung der Gesetze
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Vorschriften verwenden?
Wir bieten Ihnen Lösungen, damit Sie immer nur die gültigen (aktuellen) legislativen Vorschriften verwenden könnten.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
