Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
Guide for the Radiation Testing of Semiconductor Memories (Withdrawn 1993)
Automatische name übersetzung:
Leitfaden für die Strahlen Prüfung von Halbleiterspeichern (Withdrawn 1993)
Bezeichnung normen: ASTM F1191-88
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-49447
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Bereitstellung von aktuellen Informationen über legislative Vorschriften in der Sammlung der Gesetze bis zum Jahr 1945.
Aktualisierung 2x pro Monat!
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
Letzte Aktualisierung: 2025-12-22 (Zahl der Positionen: 2 253 013)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.