Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ASTM F1192-24
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 1.5.2024
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM F1192-24
Ausgabedatum normen: 1.5.2024
SKU: NS-1187034
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes ASTM F1192-24 :
Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Empfehlungen:
Aktualisierung der technischen Normen
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
