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Standard Guide for Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrated Circuits
Automatische name übersetzung:
Standard-Leitfaden für Transient Radiation Upset Threshold of Digital Integrierte Schaltungen
NORM herausgegeben am 10.11.1995
Bezeichnung normen: ASTM F1262M-95
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.11.1995
SKU: NS-49672
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
digital integrated circuits, digital IC´s, functional errors, ionizing, pulsed radiation, radiation, transient radiation, upset threshold
1. Scope | ||||||||||
1.1 This guide is to assist experimenters in measuring the transient radiation upset threshold of silicon digital integrated circuits exposed to pulses of ionizing radiation greater than 103 Gy (Si)/s. 1.2 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
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2. Referenced Documents | ||||||||||
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Letzte Aktualisierung: 2024-05-17 (Zahl der Positionen: 2 902 148)
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