ASTM F1263-11

Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts

Automatische Übersetzung:

Standard-Leitfaden für die Analyse der Daten in Overtest Strahlen Prüfung von Electronic Parts



NORM herausgegeben am 1.6.2011


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis35.30 ohne MWS
35.30

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F1263-11
Ausgabedatum normen: 1.6.2011
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Kategorie - ähnliche Normen:

Electronic components in general

Die Annotation des Normtextes ASTM F1263-11 :

Keywords:
confidence, rejection, overtest data, statistical analysis, Acceptance criteria/testing, Data analysis, Electrical conductors (semiconductors), Estimated survival probability, Failure end point--electronic components/devices, Microelectronic devices, Overtest data, Probability of survival, Quality assurance (QA), Stress--electronic components/device, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)

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