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Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts
Automatische name übersetzung:
Standard-Leitfaden für die Analyse von Daten in Overtest Radiation der Prüfung der elektronischen Teile
NORM herausgegeben am 10.12.1999
Bezeichnung normen: ASTM F1263-99
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.1999
SKU: NS-49675
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
confidence, rejection, overtest data, statistical analysis, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)
1. Scope | ||
1.1 This guide covers the use of overtesting in order to reduce the required number of parts that must be tested to meet a given quality acceptance standard. Overtesting is testing a sample number of parts at a stress higher than their specification stress in order to reduce the amount of necessary data taking. This guide discusses when and how overtesting may be applied to forming probabilistic estimates for the survival of electronic piece parts subjected to radiation stress. Some knowledge of the probability distribution governing the stress-to-failure of the parts is necessary though exact knowledge may be replaced by over-conservative estimates of this distribution. |
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2. Referenced Documents | ||
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Letzte Aktualisierung: 2024-05-17 (Zahl der Positionen: 2 902 148)
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