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Test Method for Determining the Mean Interface Trap Density of Mosfets by Charge-Pumping (Withdrawn 1997)
Automatische name übersetzung:
Testmethode zur Bestimmung der mittleren Schnittstellen Trapdichte von MOSFETs von Charge- Pumping (Withdrawn 1997)
Bezeichnung normen: ASTM F1340-92
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-49950
Zahl der Seiten: 5
Gewicht ca.: 15 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
ICS Number Code 31.080.30 (Transistors)
Letzte Aktualisierung: 2024-05-17 (Zahl der Positionen: 2 902 148)
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