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ASTM F143-73(1978)
Method of Test for Thickness of Epitaxial Layers of Silicon by Measurement of Stacking Fault Dimension (Withdrawn 1985)
Automatische name übersetzung:
Prüfverfahren für die Dicke der Epitaxial Schichten aus Silizium durch Messung der Stapelfehler Dimension (Withdrawn 1985)
| Sprache | |
| Realisierung |
|
| Zugänglichkeit | AUF LAGER |
| Preis | AUF ANFRAGE ohne MWS |
| AUF ANFRAGE |
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM F143-73(1978)
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-50262
Gewicht ca.: 300 g (0.66 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
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