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ASTM F1467-25
Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (?10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
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NORM herausgegeben am 1.6.2025
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM F1467-25
Ausgabedatum normen: 1.6.2025
SKU: NS-1223065
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes ASTM F1467-25 :
Keywords:
ionizing radiation effects, microcircuits, radiation hardness, semiconductor devices, X-ray testing,, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)
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