Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ASTM F1892-26
Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices
Name übersetzen
NORM herausgegeben am 1.6.2026
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM F1892-26
Ausgabedatum normen: 1.6.2026
SKU: NS-1276033
Zahl der Seiten: 42
Gewicht ca.: 126 g (0.28 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Kategorie - ähnliche Normen:
Die Annotation des Normtextes ASTM F1892-26 :
Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, ELDRS (enhanced low dose rate sensitivity), gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Empfehlungen:
EEviZak – alle Gesetze einschließlich ihrer Evidenz in einer Stelle
Bereitstellung von aktuellen Informationen über legislative Vorschriften in der Sammlung der Gesetze bis zum Jahr 1945.
Aktualisierung 2x pro Monat!
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
