Cookies
Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.
ASTM F388-84
Method for Measurement of Oxide Thickness on Silicon Wafers and Metallization Thickness by Multiple-Beam Interference (Tolansky Method) (Withdrawn 1993)
Automatische name übersetzung:
Verfahren zur Messung der Oxide Thickness auf Silizium-Wafern und Metallisierungsdicke von Vielstrahlinterferenz ( Tolansky Method) (Withdrawn 1993)
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM F388-84
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-55128
Zahl der Seiten: 6
Gewicht ca.: 18 g (0.04 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Die Annotation des Normtextes ASTM F388-84 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Empfehlungen:
Aktualisierung der Gesetze
Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Vorschriften verwenden?
Wir bieten Ihnen Lösungen, damit Sie immer nur die gültigen (aktuellen) legislativen Vorschriften verwenden könnten.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.
