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ASTM F416-94
Test Method for Detection of Oxidation Induced Defects in Polished Silicon Wafers (Withdrawn 1998)
Automatische name übersetzung:
Testverfahren zur Erkennung von durch Oxidation induzierten Defekte in polierten Siliciumscheiben (Withdrawn 1998)
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM F416-94
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-55222
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Die Annotation des Normtextes ASTM F416-94 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
