ASTM F671-99

Standard Test Method for Measuring Flat Length on Wafers of Silicon and Other Electronic Materials (Withdrawn 2003)

Automatische name übersetzung:

Standard Test Method for Measuring Wohnung Länge auf Scheiben aus Silicium und andere elektronische Materialien (Withdrawn 2003)



NORM herausgegeben am 10.12.1999


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis62.20 ohne MWS
62.20

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F671-99
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.12.1999
SKU: NS-56067
Zahl der Seiten: 4
Gewicht ca.: 12 g (0.03 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F671-99 :

Keywords:

flats, optical comparator, orientation flats, semiconductor, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

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