ASTM F673-90(1996)e1

Standard Test Methods for Measuring Resistivity of Semiconductor Slices or Sheet Resistance of Semiconductor Films with a Noncontact Eddy-Current Gage (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

Automatische name übersetzung:

Standard-Prüfverfahren für die Messung des Widerstands Semiconductor Slices oder Flächenwiderstand der Halbleiterschichten mit einem berührungslose Wirbelstrom Gage



NORM herausgegeben am 1.1.1996


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis77.60 ohne MWS
77.60

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F673-90(1996)e1
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1996
SKU: NS-56071
Zahl der Seiten: 11
Gewicht ca.: 33 g (0.07 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F673-90(1996)e1 :

Keywords:

Contactless measurements, Eddy current examination, Electrical conductors-semiconductors, Electromagnetic (eddy current) testing, Nondestructive evaluation (NDE)-semiconductors, Resistivity (electrical)-semiconductors, Sheet resistance, Silicon semiconductors-slices/wafers, resistivity of semiconductor slices/sheet resistance of semiconductor, films, with non-contact eddy-current gage, test,,Order Form, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

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