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Standard Test Method for Measuring Unsaturated TTL Sink Current
Automatische name übersetzung:
Standard Test Method for Measuring Ungesättigte TTL Sink Current
NORM herausgegeben am 1.1.1993
Bezeichnung normen: ASTM F676-97
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.1.1993
SKU: NS-56075
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
hardness assurance, neutron degradation, sink current, transistor-transistor logic (TTL), ICS Number Code 31.080.30 (Transistors)
1. Scope | ||
1.1 This test method covers the measurement of the unsaturated sink current of transistor-transistor logic (TTL) devices under specified conditions. 1.2 This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use. |
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2. Referenced Documents | ||
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Letzte Aktualisierung: 2025-07-06 (Zahl der Positionen: 2 207 474)
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