ASTM F744M-10

Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits [Metric]

Automatische name übersetzung:

Standard Test Methode zur Messung Dose Frequenzschwelle für Upset von Digital Integrierte Schaltungen [Metrisch]



NORM herausgegeben am 1.5.2010


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis70.80 ohne MWS
70.80

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F744M-10
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2010
SKU: NS-56310
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Die Annotation des Normtextes ASTM F744M-10 :

Keywords:

DIC, digital integrated circuits, dose rate, ionizing radiation, radiation dose rate, threshold for upset, upset, Circuitry, Current measurement--semiconductors, Destructive testing--semiconductors, Dose rate threshold, Dosimetry, Electrical conductors (semiconductors), Electron linear accelerator, Flash X-ray machines (FXR), Irradiance/irradiation--semiconductors, Lasers and laser applications, Linear threshold voltage, Radiation exposure--electronic components/devices, Upset threshold, Voltage

Empfehlungen:

Aktualisierung der technischen Normen

Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Normen verwenden?
Wir bieten Ihnen eine Lösung, die Ihnen eine Monatsübersicht über die Aktualität der von Ihnen angewandten Normen sicher stellt.

Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.




Cookies Cookies

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.

Sie können die Zustimmung verweigern hier.

Hier können Sie Ihre Cookie-Einstellungen nach Ihren Wünschen anpassen.

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können.