ASTM F76-08(2016)e1

Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors (Withdrawn 2023) (Includes all amendments And changes 11/30/2023).

Name übersetzen

NORM herausgegeben am 1.5.2016


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis77.40 ohne MWS
77.40

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: ASTM F76-08(2016)e1
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 1.5.2016
SKU: NS-683171
Zahl der Seiten: 14
Gewicht ca.: 42 g (0.09 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM

Kategorie - ähnliche Normen:

Semiconducting materials

Die Annotation des Normtextes ASTM F76-08(2016)e1 :

Keywords:
gallium arsenide, Hall coefficient, Hall data, Hall mobility, Hall resistivity, semiconductor, silicon, single crystal, van der Pauw,, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Empfehlungen:

Aktualisierung der Gesetze

Wollen Sie sich sicher sein, dass Sie nur die gültigen technischen Vorschriften verwenden?
Wir bieten Ihnen Lösungen, damit Sie immer nur die gültigen (aktuellen) legislativen Vorschriften verwenden könnten.
Brauchen Sie mehr Informationen? Sehen Sie sich diese Seite an.




Cookies Cookies

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können. Klicken Sie auf "OK", um Ihre Zustimmung zu erteilen.

Sie können die Zustimmung verweigern hier.

Hier können Sie Ihre Cookie-Einstellungen nach Ihren Wünschen anpassen.

Wir benötigen Ihre Einwilligung zur Verwendung der einzelnen Daten, damit Sie unter anderem Informationen zu Ihren Interessen einsehen können.