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Test Method for Wafer and Slice Flatness by Interferometric (Withdrawn 1991)
Automatische name übersetzung:
Testverfahren für die Wafer -Scheibe und Ebenheit von Interferometric (Withdrawn 1991)
Bezeichnung normen: ASTM F775-88
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-56407
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
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Letzte Aktualisierung: 2026-03-10 (Zahl der Positionen: 2 265 346)
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