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ASTM F775-88
Test Method for Wafer and Slice Flatness by Interferometric (Withdrawn 1991)
Automatische name übersetzung:
Testverfahren für die Wafer -Scheibe und Ebenheit von Interferometric (Withdrawn 1991)
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM F775-88
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-56407
Zahl der Seiten: 7
Gewicht ca.: 21 g (0.05 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Die Annotation des Normtextes ASTM F775-88 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
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