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ASTM F80-94
Test Method for Crystallographic Perfection of Epitaxial Deposits of Silicon by Etching Techniques (Withdrawn 1998)
Automatische name übersetzung:
Test Method for Crystallographic Perfection von epitaxialen Abscheidungen von Silicon durch Ätztechniken (Withdrawn 1998)
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: ASTM F80-94
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-56484
Zahl der Seiten: 9
Gewicht ca.: 27 g (0.06 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Die Annotation des Normtextes ASTM F80-94 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
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