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Practice for Determining Pinhole Density in Photoresist Films Used in Microelectronic Device Processing (Withdrawn 1996)
Automatische name übersetzung:
Praxis zur Bestimmung der Lochkamera- Dichte in Photoresist- Films in mikroelektronische Vorrichtung Verarbeitung verwendet (Withdrawn 1996)
Bezeichnung normen: ASTM F890-84(1992)
Anmerkung: UNGÜLTIG
SKU: NS-56836
Zahl der Seiten: 3
Gewicht ca.: 9 g (0.02 Pfund)
Land: Amerikanische technische Norm
Kategorie: Technische Normen ASTM
Letzte Aktualisierung: 2024-05-19 (Zahl der Positionen: 2 902 277)
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