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BS CECC 00013:1985
Harmonized system of quality assessment for electronic components: basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice.
Automatische name übersetzung:
Harmonisierten System der Qualitätsbewertung für elektronische Bauteile : Grundspezifikation : Rasterelektronenmikroskop Inspektion von Halbleiterchips
NORM herausgegeben am 30.8.1985
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS CECC 00013:1985
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.8.1985
SKU: NS-79967
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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