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BS EN 60749-14:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Robustness of terminations (lead integrity).
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Robustheit der Abschlüsse (Elektrodenintegrität)
NORM herausgegeben am 15.12.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS EN 60749-14:2003
Ausgabedatum normen: 15.12.2003
SKU: NS-95928
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS EN 60749-14:2003 :
ISBN: 0 580 43082 0 Status: Under Review
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