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BS EN 60749-20:2003
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat.
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Widerstand des kunststoffgekapselten SMDs auf die kombinierte Wirkung von Feuchtigkeit und Lötwärme
NORM herausgegeben am 7.7.2003
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS EN 60749-20:2003
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 7.7.2003
SKU: NS-95938
Zahl der Seiten: 28
Gewicht ca.: 84 g (0.19 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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