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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Latch-up test.
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NORM herausgegeben am 29.6.2004
Bezeichnung normen: BS EN 60749-29:2003
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 29.6.2004
SKU: NS-963296
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
Letzte Aktualisierung: 2026-06-10 (Zahl der Positionen: 2 281 917)
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