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BS EN 60749-35:2006
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components.
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Akustische Mikroskopie für Kunststoff umspritzt elektronischen Komponenten
NORM herausgegeben am 30.11.2006
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS EN 60749-35:2006
Ausgabedatum normen: 30.11.2006
SKU: NS-95958
Zahl der Seiten: 24
Gewicht ca.: 72 g (0.16 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS EN 60749-35:2006 :
ISBN: 0 580 49739 9 Status: Definitive
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