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BS EN 60749-37:2008
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer.
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Vorstandsebene Falltest unter Verwendung eines Beschleunigungsmesser
NORM herausgegeben am 30.5.2008
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS EN 60749-37:2008
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 30.5.2008
SKU: NS-95960
Zahl der Seiten: 22
Gewicht ca.: 66 g (0.15 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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