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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Feuchte Wärme, konstant, hoch beschleunigten Stresstest (HAST)
NORM herausgegeben am 10.9.2002
Bezeichnung normen: BS EN 60749-4:2002
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 10.9.2002
SKU: NS-95963
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Letzte Aktualisierung: 2025-11-10 (Zahl der Positionen: 2 243 715)
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