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BS EN 60749-40:2011
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using a strain gauge.
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Vorstandsebene Falltest Methode unter Verwendung eines DMS-
NORM herausgegeben am 30.9.2011
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS EN 60749-40:2011
Ausgabedatum normen: 30.9.2011
SKU: NS-95964
Zahl der Seiten: 26
Gewicht ca.: 78 g (0.17 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS EN 60749-40:2011 :
ISBN: 978 0 580 64629 4 Status: Definitive
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