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Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Guidelines for IC reliability qualification plans.
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NORM herausgegeben am 22.9.2017
Bezeichnung normen: BS EN 60749-43:2017
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 22.9.2017
SKU: NS-796907
Zahl der Seiten: 44
Gewicht ca.: 132 g (0.29 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
Letzte Aktualisierung: 2025-07-19 (Zahl der Positionen: 2 208 893)
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