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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices.
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NORM herausgegeben am 30.11.2016
Bezeichnung normen: BS EN 60749-44:2016
Ausgabedatum normen: 30.11.2016
SKU: NS-666655
Zahl der Seiten: 26
Gewicht ca.: 78 g (0.17 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
ISBN: 978 0 580 86203 8 Status: Definitive
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Letzte Aktualisierung: 2026-10-20 (Zahl der Positionen: 2 307 718)
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