UNGÜLTIG BS EN 60749-5:2003 18.6.2003 Ansicht

BS EN 60749-5:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Steady-state temperature humidity bias life test.

Automatische name übersetzung:

Halbleitervorrichtungen. Mechanische und klimatische Prüfverfahren. Beharrungstemperatur Luftfeuchtigkeit Bias-Lebensdauertest



NORM herausgegeben am 18.6.2003


Sprache
Realisierung
ZugänglichkeitAUF LAGER
Preis158.00 ohne MWS
158.00

Informationen über die Norm:

Bezeichnung normen: BS EN 60749-5:2003
Anmerkung: UNGÜLTIG
Ausgabedatum normen: 18.6.2003
SKU: NS-95966
Zahl der Seiten: 12
Gewicht ca.: 36 g (0.08 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS



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