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BS EN 62047-18:2013
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bend testing methods of thin film materials.
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mikro-elektromechanische Vorrichtungen. Biegeversuch Methoden der Dünnschichtmaterialien
NORM herausgegeben am 31.10.2013
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS EN 62047-18:2013
Ausgabedatum normen: 31.10.2013
SKU: NS-98850
Zahl der Seiten: 18
Gewicht ca.: 54 g (0.12 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS EN 62047-18:2013 :
ISBN: 978 0 580 72011 6 Status: Definitive
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