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BS EN 62047-2:2006
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Tensile testing method of thin film materials.
Automatische name übersetzung:
Halbleitervorrichtungen. Mikro-elektromechanische Vorrichtungen. Zugtestverfahren von Dünnschichtmaterialien
NORM herausgegeben am 30.11.2006
Informationen über die Norm:
Bezeichnung normen: BS EN 62047-2:2006
Ausgabedatum normen: 30.11.2006
SKU: NS-98852
Zahl der Seiten: 16
Gewicht ca.: 48 g (0.11 Pfund)
Land: Britische technische Norm
Kategorie: Technische Normen BS
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Die Annotation des Normtextes BS EN 62047-2:2006 :
ISBN: 0 580 49740 2 Status: Definitive
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